Společnost Tescan Orsay Holding, a.s. představila revoluční Tensor – nový 4D rastrovací transmisní elektronový mikroskop (4D-STEM), který byl jako první na světě od základu postaven pro zcela novou úroveň výkonu a uživatelského zážitku. Tensor je navržen tak, aby splnil potřeby všech, jejichž zájmem jsou multimodální nanocharakterizace (morfologická, chemická a strukturní). Přístroj přináší nové možnosti výzkumu především materiálovým vědcům, inženýrům zabývajícím se polovodiči a failure analysis (FA) a krystalografům.
„Uvedením Tensoru na trh se Tescan stává výrobcem, na kterého se obrátíte, pokud potřebujete analytické 4D STEM řešení na klíč pro střední napětí,“ říká Jaroslav Klíma, generální ředitel Tescan Orsay Holding, a.s. „Tescan chápe výzvy spojené s integrací nejen STEMu, ale zejména 4D-STEM funkcí na starší platformy TEM. Tyto rozsáhlé znalosti jsme proto mohli využít od samotného začátku vývoje. Rastrování elektronového svazku je tak synchronizováno s difrakčním zobrazováním pomocí přímého elektronového detektoru, precese elektronového svazku, získávání EDS signálu a analýzy a zpracování dat 4D-STEM téměř v reálném čase,“ dodává JK Weiss, vedoucí vývoje a generální ředitel Tescan Tempe, „není to jen hardware, kterým se tento systém odlišuje od všech ostatních TEMů, které jsou v současnosti na trhu. Unikátním jej činí hlavně integrace hardwaru a softwaru, jejímž výsledkem je zcela nový revoluční způsob používání, který nevyžaduje měsíce školení doktorandů či hodiny nastavování tubusu mezi různými režimy analýzy.“
Materiálovým vědcům a inženýrům zabývajícím se polovodiči a failure analysis poskytuje Tensor 4D-STEM multimodální 2D a 3D charakterizaci funkčních materiálů v nanoměřítku ve vysokém rozlišení:
· Zobrazování STEM (Bright Field, Dark Field, HAADF)
· Prvkové mapování pomocí EDS
· Mapování orientace a fáze
· Mapování mechanického pnutí
· Virtuální STEM pomocí přímého detektoru
· STEM, EDS a difrakční tomografie
Aplikace pro polovodičové laboratoře zahrnují výzkum, vývoj a výrobu logických, paměťových a úložných zařízení a také pokročilou nanocharakterizaci.
Krystalografům pak Tensor STEM umožňuje určit strukturu submikronových částic a nanočástic přírodního i syntetického původu, které jsou příliš malé na to, aby mohly být charakterizovány pomocí mikro-XRD technik.
„Tescan Tensor je další naší inovací, jež je svého druhu první na světě. Podobně jako tomu bylo v případě uvedení FIB-SEM a plazmového FIB-SEM, aplikací ToF-SIMS na platformách FIB-SEM, Dynamic-CT a Spectral-CT,“ říká Vratislav Košťál, produktový ředitel Tescanu, „naslouchali jsme zákazníkům a dodali to, co požadovali – dostupnější TEM řešení, které je vysoce výkonné a produktivní i pro běžné použití.“
Pro více informací o Tescan Tensor navštivte: info.tescan.com/stem
